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S5-02 GaN、SiC 与双脉冲安全测量

完成任务并通过验收后,再勾这一格进度只保存在当前浏览器,不会上传。

S5 · M50 · U5.1 · 实践 PR22 · 预计 15 h

本课只解决一个问题: 比较 Si MOSFET、GaN HEMT 和 SiC MOSFET 的应用边界,并建立低能量双脉冲证据流。

为什么现在学: 器件材料标签不能替代对额定、驱动、反向导通、动态 Rds(on)和测量带宽的判断。

开工前

抓住原理

核心概念

  • 宽禁带
  • 额定与降额
  • 反向导通
  • 动态 Rds(on)
  • 阈值裕度
  • 短路承受
  • 双脉冲
  • 探头去嵌

公式与模型

  • Eon/Eoff 积分
  • Ldi/dt 过冲
  • 动态导通电阻定义需固定时窗
  • 测量带宽与上升时间关系

物理直觉: 更快器件把损耗机会转化为寄生、EMI 和误触发风险,不是无条件升级。

资料怎么读

  • 中文主线: CN-PEA 第2章;CN-DEV 功率器件相关节
  • 英文/官方资料: EN-PSD;EN-FPE 器件章;原厂数据手册、评估板与安全指南

任务清单

  • [ ] 独立推导/手算: 手算脉冲电流、储能、过冲和仪器额定
  • [ ] 仿真/编程: 用厂商模型做参数/温度扫并保存模型版本
  • [ ] 实验/观察: 在 H1 台架或授权既有数据上比较积分窗与探头影响
  • [ ] 反向练习: 用错误时序/探头延迟故障检验能量算法

提交与过关

  • 提交: PR22 风险评估、原始波形、能量表、器件对比卡
  • 过关线: 不越过 H1;若无批准硬件则仅交仿真与授权数据分析;时间对齐和误差写清
  • 容易翻车: 把厂商典型曲线当保证值;未经去偏移积分;比较不同条件的数据

AI 使用边界

  • 可以让 AI 帮忙: AI 可以帮你检索术语、搭“用厂商模型做参数/温度扫并保存模型版本”的脚本骨架,也可以生成反例。保留提示词、模型版本和来源;最后用手算、官方文档或测试逐条验收。
  • 必须你自己来: 先关掉 AI,独立完成“手算脉冲电流、储能、过冲和仪器额定”。然后闭卷讲清思路,并达到这条过关线:不越过 H1;若无批准硬件则仅交仿真与授权数据分析;时间对齐和误差写清

学完之后

  • 下一站: 支撑 P1/P2 器件选择和 P4 GaN 驱动规格。
  • 项目关系: 直接支撑 P1、P2、P4;间接支撑 P3。直接形成宽禁带选择与驱动证据;P3 通过外部 DrMOS 接口了解限制。
  • 详细项目名:项目—课程矩阵

时间账

阅读 3 h · 手算 3 h · 仿真/编程 4 h · 观察/实验 3 h · 复盘 2 h。合计 15 h

原创课程正文;第三方资料按来源与许可边界引用。